Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3
Векилова Г.В., Иванов А.Н.
Конспект лекций. - М.: МИСиС, 2007. - 41 с.
Третья часть конспекта лекций посвящена описанию теоретических основ метода просвечивающей электронной микроскопии.СодержаниеПросвечивающая электронная микроскопия
Формирование изображения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ)
Основные типы контраста в ПЭМ
Основы кинематической теории дифракционного контраста
Принципы динамической теории (двухлучевой случай)
Контраст на кристаллах с дефектами
Анализ гетерогенного сплава (матричный контраст)
Контраст собственно на включениях
Третья часть конспекта лекций посвящена описанию теоретических основ метода просвечивающей электронной микроскопии.СодержаниеПросвечивающая электронная микроскопия
Формирование изображения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ)
Основные типы контраста в ПЭМ
Основы кинематической теории дифракционного контраста
Принципы динамической теории (двухлучевой случай)
Контраст на кристаллах с дефектами
Анализ гетерогенного сплава (матричный контраст)
Контраст собственно на включениях
Litres
Vous souhaitez ajouter une librairie ? Contactez-nous à support@z-lib.do
Convertissez des fichiers
Plus de résultats de recherche
Autres avantages 
